Микроскоп сканирующий
Зондовый «СММ-2000»
Отмечен нобелевской премией 1986 года
ВСТРОЕННАЯ ВИБРОИЗОЛЯЦИЯ И ВЫСОЧАЙШЕЕ РАЗРЕШЕНИЕ
В базовой комплектации показывает атомы пиролитического графита в режиме сканирующей туннельной микроскопии и решетку слюды в режиме атомно-силовой микроскопии. Для качественного осмотра малых и больших объектов микроскоп имеет сканеры с разными размерами полей по Х/Y/Z.
Микроскоп СММ-2000 работает зондами-кантилеврами, имеет три основных режима сканирующей туннельной, полуконтактной и контактной атомно-силовой микроскопии, а также более 25 дополнительных режимов по снятию карт различных физических характеристик.
Микроскоп позволяет: отсканировать поверхность в выбранной точке абзаца, снять образец с микроскопа, воздействовать на образец тем или иным способом, например, напылить, протравить или облучить, обратно установить образец в микроскоп и просканировать тут же, ранее выбранную точку на образце, с нанометровой точностью.
- Увеличение от 2000 до 10 млн.крат
- Разрешение вплоть до АТОМОВ
- Трехмерный вид поверхности
- Измерение размеров от 0,2 нм до 40 мкм
- Рапределение размеров зерен
- Анализ шероховатости до 0,2 нм
- Техподдержка 24/7 на "микроскоп.su"
- Серийный выпуск в России
- Для точных производств, науки и университетов
- Надежен даже для обучения в школах!